品牌型号 | Rigaku/SmartLab XE |
仪器地点 | 苏州校区科创大厦D区102 |
仪器功能及附件 | 物相测试；配置CBO模块可实现薄膜样品测试；配置Ge双晶入射单色器可实现高分辨XRD测试；配置高温模块可实现不同温度条件下的物相分析。 |
主要技术指标 | 1.光源：高速旋转阳极靶，靶材为铜靶，最大输出功率：9 kW；管电压：20-45 kV；管电流：10-200 mA； 2. 2θ转动范围：-10-160 °；角度最小步进：1/1000 °； 3.测角仪半径：300 mm； 4.探测器：D/teX Ultra250高速一维半导体探测器（可进行零维和一维测试）； 5.原位高温附件：配备真空系统，室温-1300 ℃。 |
仪器使用范围 | 物相测试； 摇摆曲线（Rocking Curve）测试； 倒易空间（Reciprocal space mapping）测试； 掠入射XRD测试（GI-XRD)；极图测试； 残余应力测试； 薄膜厚度测试； 高温原位测试。 |
联系方式 | 郭老师 18951991832 guolm@nju.edu.cn |
