品牌型号 | 牛津 Jupiter XR |
仪器地点 | 苏州校区科创大厦C018 |
仪器功能及附件 | 1.纳米尺度下的高空间分辨率的形貌表征与微区物理性能表征 2.表征样品的压电/铁电性能、电学、摩擦学、力学及磁学等性质 |
主要技术指标 | 1.工作模式：轻敲模式、接触模式 、横向力显微镜、 磁场力显微镜、导电原子力显微镜、压电力显微镜 、双频共振追踪模式、矢量压电力显微镜、静电力显微镜、扫描开尔文显微镜、力曲线测试、纳米刻蚀、纳米操纵、高次谐波成像模式 2.扫描器：三轴分离扫描器，三轴严格正交；X,Y扫描范围最大100μm，Z方向最大12μm；能够实现原子级高分辨成像 3.扫描器闭环噪音：X,Y轴<150pm（Adev,1Hz到1KHz带宽）；Z轴（探针接触样品表面）<35pm（Adev,1Hz到1KHz带宽）；系统高度噪音（探针接触样品表面）<25pm 4.扫描速度：高度不低于100nm的光栅样品，1μm范围扫描时，最高扫描成像速度≥40Hz |
仪器使用范围 | 量子材料、磁性、拓扑材料、功能薄膜材料、光电、表面与界面物理、新型电子信息器件、生物样品：细胞、DNA、蛋白质、脂质载体等微观物性表征 |
联系方式 | 马老师 18810081172 madandan@nju.edu.cn 谢老师 13952098402 xj1201@nju.edu.cn |
