品牌型号 | 赛默飞Talos F200X |
仪器地点 | 苏州校区科创大厦C018 |
仪器功能及附件 | 高分辨TEM像、高分辨扫描透射STEM、晶体的选区衍射SAD、EDX能谱（空间分辨率达纳米级） |
主要技术指标 | 1.信息分辨率：≤0.12 nm@200kV，线分辨率：≤0.10 nm@200kV 2. TEM模式放大倍数：25×-1050k× 3.角环形暗场探测器（HAADF）和同轴明场/暗场探测器；能够同时采集来自不同角度的电子信号的图像，包括但不仅限于明场（BF）、暗场（DF）、环形暗场（ADF）、环形明场（ABF）、高角度环形暗场（HAADF）等 4.移动范围：X,Y≥2 mm；Z≥0.75 mm 5.典型换样时间小于60秒 6.多探头EDS系统，探头数量≥4个；探测器有效探测面积：≥120 mm2 |
仪器使用范围 | 透射电子显微镜主要实现材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成分分析等功能，广泛应用于生命科学，化学，食品，石油化工，材料等领域 |
联系方式 | 马老师 18810081172 madandan@nju.edu.cn 张老师 18694991754 zyuny@nju.edu.cn 孙老师 15850577948 sunjf@nju.edu.cn |
